九域半導體科技（蘇州）有限公司歡迎您參觀第十四屆半導體設備材料及核心部件展（CSEAC2026)，展會將于2026年8月31-9月2日在無錫太湖國際博覽中心召開，我司位于A6-769展位，公司帶去全新產品，

本次展出的非接觸霍爾測試系統，基于微波霍爾原理，無需制備歐姆電極，實現晶圓無損檢測，可完成方塊電阻、載流子濃度、遷移率、導電類型測量，支持單點測試與晶圓 Mapping 面掃描，適配 GaN、SiC、ITO 透明導電薄膜等材料，解決傳統接觸式測試損傷樣品、接觸電阻干擾測量的痛點。同時展出的方阻測試儀、電阻率分析儀，具備高精度、高重復性特點，廣泛應用于外延來料檢驗、工藝監控與研發測試場景。

展會現場，眾多來自外延廠、科研院校、半導體材料企業的工程師駐足展臺，現場觀摩設備演示，針對測試精度、樣品適配、校準方案、設備維保等技術問題，與九域半導體技術團隊開展深入研討。團隊結合客戶產線實際痛點，提供定制化電學檢測整體解決方案，獲得現場客戶高度認可。